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纳米材料高温原位表征及测试数字源表

更新日期:2024年09月10日
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纳米材料高温原位表征及测试数字源表方案

通过MEMS芯片在原位样品台内对样品构建精细热场自动调通过MEMS芯片在原位样品台内对样品构建精细热场自动调控及反馈测量系统,并结合TEM/SEM研究材料在不同热场条件下发生结构相变、形貌变化、物性变化以及电性变化等关键信息。

纳米材料高温原位表征及测试数字源表

测试面临的挑战:

传统的二线制电阻测量方式容易引入附加误差,降低MEMS芯片控温的晶准度。材料测试所能承受的电流超小,低至nA甚至pA,测试设备需要具备小电流的测量能力。

纳米材料高温原位表征及测试数字源表


普赛斯S/P系列源表为原位表征提供晶准热场控制及电性能测量:
标配四线制测量端口;
提供多个电流量程,量程越低,精度越高;
蕞低1pA电流分辨率,源测精度高达0.03%。纳米材料高温原位表征及测试数字源表认准普赛斯仪表咨询,详询18140663476

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武汉普赛斯是国内醉早生产源表的厂家,产品系列丰富:产品覆盖不同的电压、电流范围,产品已经过了市场的考验,市场应用率高;SXXB系列高精度数字源表,相比于传统S系列源表,直流更大、精度更高、准确度提升至±0.03%,直流电流升级至3A,PX00B系列蕞大脉冲输出电流达30A,蕞大输出电压达300V,支持四象限工作,可为半导体行业提供更加 、稳定的测试方,欢迎随时咨询!详询一八一四零六六三四七六;



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