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芯片PCT老化试验箱性能

更新日期:2023年03月03日
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艾思荔芯片PCT老化试验箱壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆采用干燥的设计在实验过程中才用点热干燥设计,来确保测试区或者是待测品的干燥,来确保稳定性质。准的压力/温度对照显示,完全符合温湿度压力对照表要求。

芯片PCT老化试验箱性能:

1温度范围:100℃~132℃可任意设定 

2湿度范围:100%RH(饱和蒸气湿度)

3压力范围:00Kg/cm2~300Kg/cm2 Jue对压力;(安全压力容量3Kg/cm2/G=1  

个环境大气压+2Kg/cm2)

4时间范围:0~1000H

5温度分布:(+/-)20℃%(100℃)

6升温时间:RT~121℃约35分钟内

7加压时间:00Kg/cm2~100Kg/cm2约35分钟内

8、循环方式:水蒸气自然对流循环方式

9、温度感应器:RTD)PT-100Ω(铂金电阻)

10、加温电热器:绝缘耐压型温度电热器

11内箱尺寸:300×450mm(φ×D)圆形试验箱

12外箱尺寸:660×600×600mm(W×H×D)

13内箱材质:304#不锈钢板材质;外箱为烤漆


芯片PCT老化试验箱的主要特点:

1.造型分为台式和立式两种,当然这是有具体的使用性能差别的,这样的两种PCT高压老化试验箱造型非常的好看,基本上都是采用了圆弧造型。

2.遇到这样的机械,人体不会造成多大的损害,可以说这是非常人性化的一点。

3.观察窗的设计,因为在试验的过程中需要时刻注意箱体的情况,所以观察窗是不是设置得好对于一次实验非常的重要,试验箱的观察窗视野非常的大,所以基本能够满足实验需要。

4.箱体的控制系统需要很完善,当然只有完善的控制系统才能够得到准确的实验数据,当然这些对于实验是非常重要的。

芯片PCT老化试验箱用途:

芯片PCT老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,PCT高压加速寿命试验机使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,测试其制品的耐厌性、气密性。

郑重承诺!艾思荔芯片PCT老化试验箱1年免费保修,免费送货上门,免费安装调试及操作技术培训。《可按客户要求量身订制》

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